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LED光衰失效分析

概述

本文通過(guò)X射線透視檢查、LED內(nèi)部結(jié)構(gòu)分析、SEM/EDS檢查及LED發(fā)光溫度分析,認(rèn)為造成LED光衰的原因?yàn)椋悍庋b材料熱膨脹系數(shù)不一樣,LED所使用熒光粉散熱性能不好,產(chǎn)生大量熱量聚集于LED內(nèi)部,導(dǎo)致內(nèi)部溫度過(guò)高,使LED內(nèi)部不同層間出現(xiàn)斷裂或裂紋,與此同時(shí)工作電壓的存在使電遷移的發(fā)生產(chǎn)生了可能,導(dǎo)致K離子遷移,熒光層發(fā)光效率隨著K離子的不斷遷移而降低,黃光強(qiáng)度不斷降低,因此失效樣品首先出現(xiàn)光衰現(xiàn)象,然后出現(xiàn)藍(lán)光現(xiàn)象

  分析與討論

失效LED產(chǎn)生光衰及藍(lán)光現(xiàn)象的可能原因:封裝材料熱膨脹系數(shù)不一樣,LED所使用熒光粉散熱性能不好,產(chǎn)生大量熱量聚集于LED內(nèi)部,導(dǎo)致內(nèi)部溫度過(guò)高,使LED內(nèi)部不同層間出現(xiàn)斷裂或裂紋,與此同時(shí)工作電壓的存在使電遷移的發(fā)生產(chǎn)生了可能,導(dǎo)致K離子遷移,熒光層發(fā)光效率隨著K離子的不斷遷移而降低,黃光強(qiáng)度不斷降低,因此失效樣品首先出現(xiàn)光衰現(xiàn)象,然后出現(xiàn)藍(lán)光現(xiàn)象。

     1)優(yōu)化系統(tǒng)的散熱性能參數(shù)。

     2)改善目前LED材料之間的熱膨脹系數(shù)匹配性較差的問(wèn)題。

參考標(biāo)準(zhǔn)

GJB 548B-2005 微電子器件失效分析程序-方法5003

IPC-TM-650 2.1.1-2004手動(dòng)微切片法

GB/T 17359-2012 電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析通則


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