手機可靠性測試常規(guī)測試條件

結(jié)構(gòu)耐久測試    （Mechanical Endurance Test）                      

u 樣品標準數(shù)量：8 臺。                                                 

u 測試周期：7 天。

u 測試目的：各結(jié)構(gòu)件壽命測試。

1.按鍵測試（Keypad Test）

2 測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；4臺手機；手機設(shè)置成關(guān)機狀態(tài)。

2 測試方法：導航鍵及其他任意鍵進行10萬次按壓按鍵測試。

2 試驗標準：手機按鍵彈性及功能正常。

2.側(cè)鍵測試（Side Key Test）

2 測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；4臺手機；手機設(shè)置成關(guān)機狀態(tài)；5萬次按壓。

2 試驗標準：手機按鍵彈性及功能正常。

3.翻蓋測試（Flip Life Test）

2 測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；4臺手機；手機設(shè)置成開機狀態(tài)；10萬次開合翻蓋測試。

2 試驗標準：6萬次后，手機外觀，結(jié)構(gòu)，及功能正常。

4.滑蓋測試（Slide Life Test）

2 測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；4臺手機；手機設(shè)置成開機狀態(tài)；8萬次滑蓋測試。

2 試驗標準：6萬次后，手機外觀，結(jié)構(gòu)，及功能正常,滑蓋不能有松動。

5. 重復跌落測試（Micro-Drop Test）

2 測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；7cm高度 ,20mmPVC板；4臺手機；開機狀態(tài)；6000次。

2 測試標準：手機各項功能正常，外殼無變形、破裂、掉漆，顯示屏無破碎，晃動無異響。

6. 充電器插拔測試（Charger Test）

2 測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；4臺手機。

2 試驗方法：將充電器接上電源，連接手機充電接口，等待手機至充電界面顯示正常后，拔除充電插頭。在開機不插卡狀態(tài)下插拔充電3000次。

2 檢驗標準：I/