高溫烘烤試驗
高溫烘烤試驗又稱高溫老化試驗,從屬于老化測試。與普通的高溫試驗不同的是,高溫烘烤的溫度較高,且沒有濕度條件。高溫烘烤試驗主要適用于電子,電工,儀表,材料,半導體等生產企業(yè)對非易爆物進行干燥,烘焙及熱處理,特別適用于LED,LCD在英晶體,電容,電阻,等要求高恒精度和可靠性的產品過程的烘干和老化。此類高溫老化試驗一般采用高溫烘箱來完成。
高溫烘烤試驗應用領域:
道路交通類:道路車輛電子電氣設備、軌道交通機車車輛設備與裝置、汽車零部件等
計算機類:電腦、顯示屏、主機、電腦元器件、醫(yī)療設備等精密儀器等
電子通信類:手機、射頻器、電子通信元器件等,PCB、PCBA。
電器類:家電、燈具、變電器等各類家電電器設備、儀器儀表、醫(yī)療器械;
高溫烘烤試驗參考標準:GB/T 2423.2、IEC 60068-2-2等。