冷熱沖擊測試需要滿足很多試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn),本文以液體式冷熱沖擊箱為例。
1. GB/T2423.1-2001低溫試驗(yàn)方法;
3. GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)N;
9. GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn);
10. SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式;
11. 滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化;
12. GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則;
14. QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則;
15. EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估。
電子設(shè)備和元器件中發(fā)生溫度變化的情況很普遍。當(dāng)設(shè)備未通電時(shí),其內(nèi)部零件要比其外表面上的零件經(jīng)受的溫度變化慢。
——當(dāng)設(shè)備從溫暖的室內(nèi)環(huán)境轉(zhuǎn)移到寒冷的戶外環(huán)境,或相反情況時(shí);
——當(dāng)設(shè)備遇到淋雨或浸入冷水中而突然冷卻時(shí);
通電后設(shè)備中會產(chǎn)生高的溫度梯度,由于溫度變化,元器件會經(jīng)受應(yīng)力,例如,在大功率的電阻器旁邊,輻射會引起鄰近元器件表面溫度升高,而其他部分仍然是冷的。
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