概述
一般來說為了評價分析電子產(chǎn)品可靠性而進行的試驗稱為可靠性試驗,是為預(yù)測從產(chǎn)品出廠到其使用壽命結(jié)束期間的質(zhì)量情況,選定與市場環(huán)境相似度較高的環(huán)境應(yīng)力后,設(shè)定環(huán)境應(yīng)力程度與施加的時間,主要目的是盡可能在短時間內(nèi),正確評估產(chǎn)品可靠性。
常規(guī)電工電子設(shè)備環(huán)境試驗項目及檢測標(biāo)準(zhǔn):
1.低溫試驗 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫GB/T2423.1-2008,IEC60068-2-1:2007
2.高溫試驗 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫GB/T2423.2-2008 ,IEC60068-2-2:2007
3.恒定濕熱試驗 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cy: 恒定濕熱主要用于元件的加速試驗 GB/T2423.50-2012,IEC60068-2-67:1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗 GB/T 2423.3-2006,IEC 60068-2-78:2001
4.交變濕熱試驗 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Db:交變濕熱(12h+12h循環(huán)) GB/T2423.4-2008,IEC 60068-2-30:2005
5.振動試驗 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fi: 振動 混合模式 GB/T 2423.58-2008,IEC 60068-2-80:2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fh:寬帶隨機振動(數(shù)字控制)和導(dǎo)則 GB/T 2423.56-2006,IEC 60068-2-64:1993 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fc和導(dǎo)則:振動(正弦) GB/T 2423.10-2008,IEC 60068-2-6:1995
6.溫度變化 環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗N: 溫度變化 GB/T 2423.22-2012,IEC 60068-2-14:2009
7.溫度/濕度組合循環(huán) 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗 GB/T 2423.34-2012,IEC 60068-2-38:2009
8.跌落 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ed:自由跌落 GB/T 2423.8-1995,IEC 60068-2-32:1990
9.機械沖擊 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ea和導(dǎo)則:沖擊 GB/T 2423.5-1995,IEC 60068-2-27:1987
10.碰撞 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Eb和導(dǎo)則:碰撞 GB/T 2423.6-1995 ,IEC 60068-2-29:1987
11.傾跌與翻倒 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒 (主要用于設(shè)備型樣品) GB/T 2423.7-1995,IEC 60068-2-31:1982
12.砂塵 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗L:沙塵試驗 GB/T 2423.37-2006,IEC 60068-2-68:1994
13.鹽霧 人造氣氛腐蝕試驗 鹽霧試驗 GB/T 10125-2012,ISO 9227:2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Ka:鹽霧 GB/T 2423.17-2008,IEC60068-2-11:1981
14.溫度沖擊 環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗N: 溫度變化 GB/T 2423.22-2012,IEC 60068-2-14:2009
15.外殼防護 外殼防護等級(IP代碼) GB 4208-2008,IEC 60529:2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗R:水試驗方法和導(dǎo)則 GB/T 2423.38-2008,IEC 60068-2-18:2000
16.低溫/振動(正弦)綜合試驗
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T 2423.35-2005,IEC 60068-2-50:1983
17.高溫/振動(正弦)綜合試驗
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/BFc:散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T 2423.36-2005,IEC 60068-2-51:1983
18.溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(隨機)綜合 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部