金屬材料檢測(cè)晶粒度指標(biāo)，可以依據(jù)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB 6394-2017中規(guī)定來測(cè)量晶粒度，其中測(cè)定晶粒度的方法有三種，即比較法，面積法和截線法等，
一、金屬材料檢測(cè)晶粒度-比較法關(guān)系
比較法是在倍顯微鏡下與標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖對(duì)比來評(píng)定晶粒度的。標(biāo)準(zhǔn)圖是按單位面積內(nèi)的平均晶粒數(shù)來分級(jí)的，晶粒度級(jí)別指數(shù)和平均晶粒數(shù)的關(guān)系為
式中N———放大100倍時(shí)每1m㎡面積內(nèi)的晶粒數(shù)，晶粒越細(xì)，N越大，則G越大。
二、金屬材料檢測(cè)晶粒度-評(píng)級(jí)方法
在GB 6394-2017中備有四個(gè)系列的標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖，包括無孿晶晶粒（淺腐蝕）、有孿晶晶粒（淺腐蝕），有孿晶晶?！瓷罘床罡g），鋼中奧氏體晶粒（滲碳法）。我們以無孿晶晶粒（淺腐蝕）的標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖為例（0級(jí)、9級(jí)和10級(jí)未畫出）。
實(shí)際評(píng)定時(shí)應(yīng)選用與被測(cè)晶粒形貌相似的標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖，否則將引入視覺誤差。當(dāng)晶粒尺寸過細(xì)或
過粗，在100倍下超過了標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖片所包括的范圍，可改用在其它放大倍數(shù)下參照同樣標(biāo)準(zhǔn)評(píng)定，再利用下表查出材料的實(shí)際晶粒度。
三、金屬材料檢測(cè)晶粒度
1、評(píng)級(jí)時(shí)，一般在放大100倍的顯微鏡下，在每個(gè)試樣檢驗(yàn)面上選擇三個(gè)或三個(gè)以上具有代表性的視場(chǎng)，對(duì)照標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖進(jìn)行評(píng)定。
2、若具有代表性的視場(chǎng)中，晶粒大小均勻，則用一個(gè)級(jí)別來表示該種晶粒。
3、若試樣中發(fā)現(xiàn)明顯的晶粒不均勻現(xiàn)象，則應(yīng)當(dāng)計(jì)算不同級(jí)別晶粒在視場(chǎng)中各占面積的百分比。
4、若占優(yōu)勢(shì)的晶粒不低于視場(chǎng)面積的90%時(shí)，則只記錄一種晶粒的級(jí)別指數(shù)，否則應(yīng)同時(shí)記錄兩種晶粒度及它們所占的面積，如6級(jí)70%-4級(jí)30%。
四、金屬材料檢測(cè)晶粒度
比較法檢測(cè)晶粒度簡(jiǎn)單直觀，適用于檢測(cè)評(píng)定等軸晶粒的完全再結(jié)晶或鑄態(tài)的金屬材料。不過比較法檢測(cè)晶粒度精度較低，為了提高精度可把標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖畫在透明紙上，再?gòu)?fù)在毛玻璃上與實(shí)際晶粒組織進(jìn)行比較。
當(dāng)然，金屬材料檢測(cè)晶粒度的方法除了比較法外，還有面積法（通過統(tǒng)計(jì)給定面積內(nèi)晶粒數(shù)來測(cè)定晶粒度）和截點(diǎn)法（統(tǒng)計(jì)在給定長(zhǎng)度測(cè)試線段上的晶界截點(diǎn)數(shù)測(cè)定晶粒度）。如果大家有興趣，具體操作方法可參看國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB6394-2017的規(guī)定。
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