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電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試流程

深圳市訊科標(biāo)準(zhǔn)權(quán)威可靠性測(cè)試中心

       電子產(chǎn)品經(jīng)過(guò)一段時(shí)間的使用之后,就會(huì)遇到電子產(chǎn)品的電子元器件老化的問(wèn)題,出現(xiàn)電子產(chǎn)品性能不穩(wěn)定,無(wú)法穩(wěn)定使用,這是電子產(chǎn)品的通病。如果能夠?qū)﹄娮赢a(chǎn)品的可靠性進(jìn)行測(cè)試,這樣可以提早發(fā)現(xiàn)電子產(chǎn)品中存在較大故障概率的地方,通過(guò)修改電路、提高生產(chǎn)工藝、改良電子元器件性能進(jìn)行補(bǔ)救,從而提高電子產(chǎn)品的可靠性。所以,對(duì)于電子產(chǎn)品的測(cè)試就顯得至關(guān)重要。

  對(duì)電子產(chǎn)品可靠性的測(cè)試一般包括老化測(cè)試和環(huán)境試驗(yàn):

  1、老化測(cè)試

  電子產(chǎn)品一般都包含有塑料材質(zhì)和金屬材質(zhì),長(zhǎng)時(shí)間通電運(yùn)行的話,塑料會(huì)出現(xiàn)發(fā)黃變性的現(xiàn)象,金屬部分則會(huì)出現(xiàn)銹蝕,會(huì)導(dǎo)致整個(gè)電子產(chǎn)品無(wú)法使用。

  因此在老化試驗(yàn)箱對(duì)電子產(chǎn)品及其電子元器件進(jìn)行測(cè)試,計(jì)算其平均無(wú)故障工作時(shí)間,分析總結(jié)故障的特點(diǎn),找出它們的共性問(wèn)題加以解決。這樣就可以提高電子產(chǎn)品的可靠性,保證電子產(chǎn)品長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定使用。

  相關(guān)儀器:紫外線老化箱,耐黃變老化試驗(yàn)箱

  2、環(huán)境試驗(yàn):

  電子產(chǎn)品都有自己的適合的工作環(huán)境,特殊的一些電子產(chǎn)品還有在惡劣條件下的產(chǎn)品指標(biāo),因此,對(duì)電子產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn),有助于明了電子產(chǎn)品的穩(wěn)定工作環(huán)境以及能夠耐受的惡劣工作環(huán)境的指標(biāo)

  (1)溫、濕度試驗(yàn)

  溫度測(cè)試是確定不同溫度環(huán)境對(duì)電子產(chǎn)品的影響,確定電子產(chǎn)品在高溫和低溫條件下工作和儲(chǔ)存的適應(yīng)性,包括高溫和低溫負(fù)荷試驗(yàn)、高溫和低溫儲(chǔ)存試驗(yàn),從而確定電子產(chǎn)品能夠穩(wěn)定運(yùn)行的最高溫度和最低溫度。

  濕度測(cè)試是確定不同濕度環(huán)境對(duì)電子產(chǎn)品的影響。大多是電子產(chǎn)品對(duì)濕度的耐受性都比較低,空氣中的水蒸氣很容易引起電子元器件短路、銹蝕,只有經(jīng)過(guò)特殊防水處理的電子產(chǎn)品才能夠在濕度較大的情況下使用。

  相關(guān)儀器:恒溫恒濕箱、高低溫濕熱試驗(yàn)箱

  (2)振動(dòng)和沖擊試驗(yàn)

  電子產(chǎn)品多為精密性設(shè)備,對(duì)于振動(dòng)和各種沖擊比較敏感,在運(yùn)輸及使用過(guò)程中,很容易因?yàn)閯×业恼駝?dòng)和沖擊很容易造成電子元器件位移、脫焊等問(wèn)題,導(dǎo)致產(chǎn)品無(wú)法正常使用,尤其是一些非常重要的電子元器件比如電子陀螺儀、重力感應(yīng)器等等,這些重要的電子零部件要特別做振動(dòng)測(cè)試,以確定其在各種振動(dòng)和沖擊下的可靠性。

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